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[세미나] [4과 세미나: 3월 11일] 고광일 사장님 강연소개

2010-03-10l 조회수 10755




Eliminating ‘False Calls’ finally
with New 3D AOI Technology

 연사 : 고광일 (고영테크놀러지 사장)
 일시 : 2010년 3월 11(목) 오후 5:30~6:20
 장소 : 서울대학교 301동 118호

Abstract :  
전자제품 생산 업계에서는 품질관리를 위한 초정밀 검사장비 및 공정관리 툴이 필수불가결한 요소이나, 이러한 시장의 needs와는 달리 기존의 검사장비들은 2D grayscale 검사의 근원적인 한계를 극복하지 못하였다. 정확한 3차원 측정데이터를 기반으로 3차원 측정대상물의 양/불량 판정을 하지 못하는 2D 검사의 한계는 즉시 생산공정에서의 false call과 escape 증가, 그에 따른 생산효율성과 field reliability의 저하로 이어진다. 정확한 3차원 측정데이터를 기반으로 한 3D 검사기는 사용자가 생산 공정에서 발생하는 불량의 원인을 분석할 수 있는 도구가 되어, 불량 검출의 차원을 넘어 불량 예방의 목적으로 사용됨에 따라 공정관리의 핵심이 될 수 있다. 이 같은 3차원 기술은 기존 2차원 기술이 가진 여러가지 한계점에 대한 명확한 해결책을 제시한다.

Biography:
고광일 사장은 1980년 서울대학교 전기공학과에서 학사, 1982년 동대학원 제어계측공학과에서 석사학위를 받았으며, 1989년에 미국 University of Pittsburgh에서 Robotics로 공학박사학위를 받았다. 1983년 금성사(現 LG 전자) 중앙연구소에 입사하여, 1997년까지 LG산전 연구소에 몸담았고, 재직 중이던 1992년 LG그룹 신제품상 개발 경진대회에서 은상을 수상, 1995년에는 “지능형 용접용 Robot System 개발”로 장영실상을 수상하였다. 1997년 미래산업㈜ 연구소장 겸 SMT 사업본부장으로 부임, 2000년에 미국의 SMT Magazine 주관 “Vision Award- Mounter 부문 세계 최고의 신제품 상”을 수상하였고 같은 해 “지식경영 대상-개인부문 최고 CKO(Chief Knowledge officer) 상”을 수상하였다. 2002년 설립한 ㈜고영테크놀러지의 대표이사로써 고광일 사장은 설립 5년만인 2006년 주력상품인 3D SPI의 세계 시장 점유율 1위를 달성하였으며, 2007년 “벤처기업 대상-국무총리표창”, 2008년 “Vision Award-검사기 부문 세계 최고의 신제품상”, “Global Technology Award (세계 기술대상)-검사기 부문”을 연이어 수상하였다. 최근에는 세계 최초의 3D 측정기반 AOI를 출시하며 3차원 검사/측정 분야에서 지속적으로 사업 영역을 넓혀 가고 있다.
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